کنفرانس بین المللی میکروالکترونیک ایران

صفحه اصلی / هفتمین کنفرانس بین المللی میکروالکترونیک ایران

طراحی یک فلیپ فلاپ کم مصرف، پرسرعت و مقاوم در برابر خطاهای نرم برای فناوریهای نانومتری

نویسندگان :

سیده عارفه رضوی¹ وحید جمشیدی²

1- دانشگاه شهید باهنر کرمان 2- دانشگاه شهید باهنر کرمان

کلمات کلیدی :

فلیپ فلاپ،تک رخداد واژگونی (SEU)،خطای نرم

چکیده :

با کاهش ابعاد ترانزیستورها، آسیب پذیری مدارهای منطقی دیجیتال در مقابل با خطاهای نرم ناشی از برخورد ذرات پرانرژی در حال افزایش است. فلیپ فلاپ ها یکی از عناصر مهم مدارهای منطقی بوده که در مقابل تک رخداد واژگونی (SEU) و تک رخداد چندگره واژگونی (SEMU) بسیار آسیب پذیر هستند. فلیپ فلاپ هایی که تا کنون معرفی شده اند، با چالش‌هایی مانند مساحت زیاد و مصرف توان بالا روبه‌رو هستند. در این مقاله، یک مدار فلیپ فلاپ جدید مصون در برابر SEU و همچنین مقاوم در برابر SEMU، طراحی و ارزیابی شده است. نتایج شبیه‌سازی نشان می‌دهد که در مقایسه با کارهای پیشین، فلیپ فلاپ پیشنهادی به ترتیب 53.09٪، 36.54٪، 40.83٪، 42.25٪ و 81.40٪ کاهش در مصرف توان، تأخیر D-Q، تأخیر CLK-to-Q، مساحت، و حاصلضرب توان–تأخیر را فراهم می کند.